Analyse surfacique de matériaux polymères par microscopie AFM

Analyse surfacique d’un wafer de silicium, recouvert d’un film mince de copolymères à blocs, grâce à un Microscope à force atomique (AFM) installé en salle blanche. Le chercheur étudie ainsi la nano-structure de ce matériau polymère. La salle blanche permet de travailler dans une atmosphère contrôlée en température, en humidité, en pression et en nombre de particules. La résolution spatiale peut aller de quelques dizaines de micromètres au dixième de nanomètre. Les images obtenues donnent des informations topographiques ou mécaniques sur un matériau pouvant être analysé dans différentes conditions : solide, liquide ou sous vide. Les applications visées concernent l'électronique organique voire la microélectronique via l'auto-organisation de copolymères à blocs. Les nombreuses nano-structurations de ces copolymères peuvent être révélées grâce à cette technique.