Echantillon de graphène sur carbure de silicium, dans un microscope à effet tunnel

Echantillon de graphène en épitaxie sur carbure de silicium, à l'intérieur d'un microscope à effet tunnel fonctionnant à température variable sous ultravide. Développé par l'Institut Néel, ce microscope permet d'analyser les propriétés structurales et électroniques de couches de graphène comportant un nombre limité (1 à 4) de plans. Grâce à cette technique, basée sur le balayage d'une pointe de tungstène au dessus de la surface, la structure cristallographique du graphène est imagée avec une résolution spatiale inférieure au nanomètre. Les propriétés électroniques du graphène, à la même échelle, sont également sondées. Cette technique apporte des informations précieuses concernant le couplage du graphène avec son support, ici le carbure de silicium.