See Photo report
20120001_1676
© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides,

Reference

20120001_1676

Production year

2012

Max. size

27.09 x 18.02 cm / 300 dpi

Caption

Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.

CNRS Institute(s)

Regional office(s)

Scientific topics

CNRS Images,

Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.