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Reference
20090001_1100
Image obtenue en électrons secondaires d'un cratère laissé à la surface d'un échantillon de la météo
Image obtenue en électrons secondaires d'un cratère laissé à la surface d'un échantillon de la météorite primitive Semarkona par le bombardement d'ions primaires de la sonde ionique. Ce faisceau d'ions large d'une vingtaine de µm sert à arracher et à ioniser les atomes en surface de l'échantillon, qui sont ensuite filtrés, triés puis mesurés. Imagerie par microscopie électronique à balayage (MEB) en électrons secondaires.
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