Analyse par microscopie à force atomique (AFM) de la mésostructure de matériaux polymères chargés av

Analyse par microscopie à force atomique (AFM) de la mésostructure de matériaux polymères chargés avec des particules de noir de carbone conducteur. L'image de gauche représente la surface supérieure d'une tranche de quelques microns d'épaisseur : on distingue des agrégats de particules émergeant à la surface de coupe. L'image de droite représente le résultat de la mesure locale de résistance électrique par un nouvel accessoire appelé résiscope : on visualise les seules particules de la surface supérieure connectées électriquement à la surface inférieure.