20000001_1095

© Richard LAMOUREUX/CNRS Images

Reference

20000001_1095

Tests sous pointes de circuits intégrés au LEPSI (Réf. Le Journal du CNRS Juillet-Août 2000).

Tests sous pointes de circuits intégrés au LEPSI (Réf. Le Journal du CNRS Juillet-Août 2000).

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