L'url de cette page a bien été copiée dans votre presse-papier!
Reference
20180015_0006
Installation d'un échantillon et d'une demi-grille en cuivre dans un microscope MEB-FIB
Mise en place d'un échantillon et d'une demi-grille en cuivre dans un microscope électronique à balayage à faisceau d'ions focalisés (MEB-FIB). Cet équipement combine une colonne électronique pour imager l'échantillon pendant l'usinage et une colonne ionique à faisceau d'ions focalisés (FIB). Grâce à lui, il est possible d'observer la matière, de l'usiner et de créer des structures à l'échelle nanométrique. Il permet également de préparer des lames minces pour la microscopie électronique en transmission (MET) avec grande précision et rapidité.
The use of media visible on the CNRS Images Platform can be granted on request. Any reproduction or representation is forbidden without prior authorization from CNRS Images (except for resources under Creative Commons license).
No modification of an image may be made without the prior consent of CNRS Images.
No use of an image for advertising purposes or distribution to a third party may be made without the prior agreement of CNRS Images.
Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.
