© Francisco-José CADETE SANTOS AIRES/CNRS Images
Référence
20030001_0995
Eau sur wafer (tranche très fine) de silicium avec une couche d'oxyde natif en surface, observée en
Eau sur wafer (tranche très fine) de silicium avec une couche d'oxyde natif en surface, observée en microscopie à force atomique (AFM). Image (4µm x 4µm), Z Range = 5 nm. L'objectif est l'observation de micro-goutellettes d'eau sur des surfaces d'oxyde de silicium modélisant des poudres de silice soumises à différents taux d'humidité.
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