L'url de cette page a bien été copiée dans votre presse-papier!
Reference
20120001_1678
Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides,
Analyseur ionique de dernière génération. Cet appareillage permet d'analyser les matériaux solides, supportant la mise sous vide poussé, par la technique de Spectrométrie de masse d'ions secondaires (SIMS). Il permet d'analyser la composition chimique de divers matériaux, des semiconducteurs, des verres... Le but est de déterminer la composition d'un échantillon.
The use of media visible on the CNRS Images Platform can be granted on request. Any reproduction or representation is forbidden without prior authorization from CNRS Images (except for resources under Creative Commons license).
No modification of an image may be made without the prior consent of CNRS Images.
No use of an image for advertising purposes or distribution to a third party may be made without the prior agreement of CNRS Images.
Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.
