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20170083_0095

© Cyril FRESILLON / CEMHTI / CNRS Images

Reference

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Mesure du pouvoir émissif d’une pastille de carbure de silicium par spectroscopie d’émission infrarouge et visible

Manipulation et positionnement sur le porte échantillon d’une pastille de carbure de silicium (10 mm de diamètre et 1 mm d’épaisseur) pour l’acquisition de son spectre d’émission dans les gammes de l’infrarouge et du visible. La pastille, placée dans une enceinte sous air sec, repose sur un support en céramique réfractaire. Un faisceau laser CO2 de 12 mm de diamètre, scindé en deux parties égales par une lame séparatrice et dirigé ensuite par un jeu de miroirs sur les deux faces de la pastille, chauffe le matériau à analyser jusqu’à des températures pouvant atteindre près de 3000 K. L’échantillon, chauffé par le faisceau laser rougeoie. Le spectromètre reçoit et analyse le rayonnement émis et le compare au rayonnement de référence du corps noir (cylindre visible à gauche). Le spectre émis dépend intrinsèquement des propriétés optiques de l’échantillon qui elles même sont fonction de sa microstructure (composition et texture). Cette technique permet donc à travers l’analyse de la réponse thermo-radiative de caractériser les indices optiques d’un milieu et par exemple de suivre in situ la restructuration du matériau soumis à des conditions extrêmes de température.

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