Production year
2017
© Cyril FRESILLON / CEMHTI / CNRS Images
20170083_0045
Installation d’un échantillon sous forme de poudre dans un diffractomètre de rayons X avec conditions de température contrôlées. Les expériences de diffraction des rayons X in situ en température (DRX-HT) sont effectuées grâce à un diffractomètre couplé avec un four, dont le porte-échantillon est équipé d’une résistance, permettant de chauffer l’échantillon jusqu’à une température de 1200°C. Des fenêtres transparentes aux rayons X permettent de collecter le signal et l’obtention de diffractogrammes en cours de chauffage. Cette technique d’analyse permet de suivre l’évolution des phases cristallines du matériau selon la température et d’informer sur sa réactivité ou sa stabilité.
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2017
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