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L'ellipsométrie est une méthode optique permettant le contrôle de la croissance et des propriétés des couches minces. Ce clip illustre un exemple de transfert technologique entre un laboratoire de recherche et l'industrie. L'ellipsomètre a été mis au point par une équipe d'un laboratoire du CNRS, le PICM (Physique des interfaces et des couches minces). Le responsable de l'équipe, Bernard Drévillon, explique l'intérêt de l'ellipsométrie : contrôle de la croissance d'un dépôt de couche…