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20180079_0001

© Hubert RAGUET / UMPhy CNRS / THALES / FIRST-TF / CNRS Images

Référence

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Mesure de la réponse en fréquence d’un nano-oscillateur spintronique

Mesure de la réponse en fréquence d’un nano-oscillateur spintronique. Ses propriétés dynamiques, c'est-à-dire sa fréquence et sa largeur de raie (facteur de qualité), sont caractérisées par leur spectre d'émission radiofréquence mesuré sur un analyseur de spectre. Un des objectifs de ces mesures est d'étudier les mécanismes physiques à l'origine du bruit de ces nano-oscillateurs spintroniques, un des paramètres clés en vue de leur utilisation dans le domaine Temps-Fréquence.

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