Année de production
2011
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
Référence
20110001_1264
Vue de l'équipement ToF-SIMS (spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol) couplé aux s
Vue de l'équipement ToF-SIMS (spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol) couplé aux spectromètres XPS (spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X) et LEIS (spectroscopie de rétrodiffusion d'ions lents). Cet équipement est utilisé pour l'analyse de surfaces.
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