Année de production
2008
© Caroline ROSE/INSU/IRAM/CNRS Images
20090001_0438
Ecran d'un microscope à balayage électronique dans la salle blanche de l'IRAM (Institut de Radioastronomie Millimétrique) sur lequel on observe une jonction supraconductrice (élément-clé des systèmes de réception) après le dépôt de couches minces et plusieurs étapes de photolithographie. Les jonctions supraconductrices ne mesurent qu'un micromètre carré.
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2008
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