20060001_1605
© François JANNIN/CNRS Images

CeCaMA : Centre de Caractérisation des Matériaux Avancés. Appareils de caractérisation chimique et m

Référence

20060001_1605

Année de production

2006

Taille maximale

36.31 x 24.11 cm / 300 dpi

Légende

CeCaMA : Centre de Caractérisation des Matériaux Avancés. Appareils de caractérisation chimique et morphologique à l'échelle submicronique. Microsonde à spectrométrie X. L'analyse des rayons X issus d'une excitation par faisceau d'électrons focalisé permet une très bonne analyse quantitative d'un microvolume. Application à l'étude d'un dépôt de TiO2 (dioxyde de titane) obtenu en milieu supercritique.

Institut(s)

Délégation(s)

Thématiques scientifiques

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