Retour au reportage Retour au reportage
20130001_2127

© Jean-Claude MOSCHETTI / CNRS Images

Reference

20130001_2127

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffracto

Alignement d'un échantillon (cristal) dans le faisceau de rayons X d'un diffractomètre. Ce diffractomètre de rayons X permet d'étudier la structure de la matière à l'échelle atomique et moléculaire et à basse température (jusqu'à -190°C).

CNRS Institute(s)

Regional office(s)

Scientific topics

CNRS Images,

Our work is guided by the way scientists question the world around them and we translate their research into images to help people to understand the world better and to awaken their curiosity and wonderment.