20130001_0735
© Cyril FRESILLON/CNRS Images

Mise en place d'un échantillon, un transistor pour la microélectronique

Reference

20130001_0735

Production year

2013

Max. size

41.72 x 27.77 cm / 300 dpi

Caption

Mise en place d'un échantillon, un transistor pour la microélectronique, dans le microscope électronique en transmission I2TEM (In situ interferometry transmission electron microscope) du CEMES (Centre d'élaboration de matériaux et d'études structurales). Il s'agit d'un microscope cohérent à émission de champ froide, unique car dédié à l'interférométrie électronique, la microscopie de Lorentz et les expériences in situ. L'I2TEM est équipé de 4 biprismes utilisés en holographie électronique et d'une double platine-objet permettant de travailler sur les échantillons hors du champ magnétique de l'objectif. Ce microscope permet de visualiser et de mesurer les champs magnétiques et électriques ainsi que les déformations à une échelle nanoscopique.

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