Production year
2011
© Cyril FRESILLON/CNRS Images
Reference
20110001_1264
Vue de l'équipement ToF-SIMS (spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol) couplé aux s
Vue de l'équipement ToF-SIMS (spectrométrie de masse d'ions secondaires à temps de vol) couplé aux spectromètres XPS (spectroscopie de photoélectrons induits par rayons X) et LEIS (spectroscopie de rétrodiffusion d'ions lents). Cet équipement est utilisé pour l'analyse de surfaces.
Add to my selection
Terms of use
The use of media visible on the CNRS Images Platform can be granted on request. Any reproduction or representation is forbidden without prior authorization from CNRS Images (except for resources under Creative Commons license).
No modification of an image may be made without the prior consent of CNRS Images.
No use of an image for advertising purposes or distribution to a third party may be made without the prior agreement of CNRS Images.
For more information, please consult our general conditions
