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Reference
20030001_0982
Surface d'un échantillon de zircone yttriée, observée en microscopie à force atomique (AFM) en mode
Surface d'un échantillon de zircone yttriée, observée en microscopie à force atomique (AFM) en mode contact. L'AFM permet l'observation de variantes martensitiques lors de la transformation du matériau, de la phase quadratique vers la phase monoclinique. L'attaque thermique à 14500°C permet de révéler les joints de grains par diffusion et de séparer les grains individuellement. Les échelles horizontales (5µm) et verticales (50 nm) permettent d'amplifier les détails du relief. Ces résultats ont été obtenus dans le cadre d'une étude sur le développement de nanocomposites alumine-zircone pour des applications orthopédiques (principalement prothèses de hanche).
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